仪器仪表学报

作者：黄文美1

单位：黄文美1,2，吴晓晴1,2，李亚芳1,2，翁玲1,2,(1.河北工业大学 省部共建电工装备可靠性与智能化国家重点实验室天津300130；2.河北工业大学 河北省电磁场与电器可靠性重点实验室天津300130）,

关键词：关键词：TbDyFe合金;叠片结构;高频;动态磁特性;损耗特性

基金：*基金项目：国家自然科学基金（51777053）项目资助

摘要：TbDyFe合金可应用于高频乃至超声频率器件中，高频磁场(f>1kHz)下TbDyFe合金（Terfenol?D）磁滞现象及损耗严重。研究不同厚度TbDyFe合金叠片的动态磁特性及损耗特性对于设计高频范围的器件至关重要。采用AMH?1M?S型动态磁特性测试系统测量了不同厚度TbDyFe合金叠片在不同驱动磁场频率和磁密幅值下的动态磁滞回线。基于动态磁性理论和损耗计算模型，对比分析了不同厚度TbDyFe合金叠片的动态磁特性参数，并对高频范围内的损耗机理进行了深入研究。实验结果表明，当磁密幅值Bm=0?05T、频率为5kHz时，1mm厚叠片结构样品与单片2mm厚样品相比，动态磁滞回线横向变窄，所需磁场强度减小，矫顽力和磁能损耗值分别减小了26?4%和28?1%，振幅磁导率增大了11?7%。在一定磁密幅值下，TbDyFe合金的复磁导率实、虚部和振幅磁导率随频率增大，整体呈现出数值减小、减速变慢趋势；在高频高磁密条件下(f>5kHz、Bm>0?06T)，厚度减小使TbDyFe合金损耗减小更为明显。

来源：2020年第1期

《仪器仪表学报》期刊编辑部

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