仪器仪表学报

北大核心,CA,JST,EI,CSCD

国内刊号:11-2179/TH

国际刊号:0254-3087

仪器仪表学报杂志2020年第1期:基于贝叶斯统计模型的金属缺陷电磁成像方法研究*

发布日期:

作者:王琦1,张静薇1,张荣华2,薛峰军3,李秀艳1

单位:王琦1,张静薇1,张荣华2,薛峰军3,李秀艳1,(1.天津工业大学电子与信息工程学院 天津市光电检测技术与系统重点实验室天津300387; 2.天津工业大学电气工程与自动化学院天津300387; 3.武汉奔跑吧教育研究院武汉430064),

关键词:关键词:电磁层析成像;稀疏贝叶斯;统计概率;图像重建

基金:*基金项目:国家自然科学基金(61872269,61601324,61903273)、天津市自然科学基金(18JCYBJC85300)、天津市企业科级特派员项目 (18JCTPJC61600) 资助

摘要:提出了一种基于贝叶斯理论的电磁层析成像(EMT)图像重建算法。传统的正则化方法仅仅能获得单一电导率的近似估计值,提供的模型信息量有限。统计概率方法可以获得大量合理的模型参数估计值,根据缺陷分布的稀疏性,将求解电导率划分为一系列块状结构,使用稀疏贝叶斯学习框架,将电导率分布的稀疏先验信息和噪声信息等统计信息引入到EMT图像重建中,可以得到电导率分布全面的统计描述。为验证该算法的有效性,将新方法与共轭梯度算法、总变差正则化算法进行比较,并基于EMT实验系统进行了缺陷成像实验。仿真和实验结果表明,含有统计信息的稀疏贝叶斯算法与传统算法相比,图像误差降低20%,有效提高了重建图像质量与精度。

来源:2020年第1期

《仪器仪表学报》期刊编辑部

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