仪器仪表学报

北大核心,CA,JST,EI,CSCD

国内刊号:11-2179/TH

国际刊号:0254-3087

仪器仪表学报杂志2020年第6期:电容涡流双模式一体化探头检测性能影响因素研究*

发布日期:

作者:殷晓康,符嘉明,谷悦,李伟,陈国明

单位:殷晓康,符嘉明,谷悦,李伟,陈国明,(中国石油大学(华东)机电工程学院青岛266580),

关键词:双模式;无损检测;检测性能;影响因素;探头设计

基金:*基金项目:基金项目国家重点研发计划(2016YFC0802303)、国家自然科学基金(51675536)、中央高校基本业务费自主创新项目(18CX02084A)资助

摘要:摘要电容?涡流双模式一体化无损检测方法,可结合绝缘体检测中的电容检测技术与导体检测中的涡流检测技术的优势,满足玻纤复合材料修复结构等“绝缘?导电”混合结构的全面检测需求。对双模式一体化检测技术的电容与涡流模式原理分别进行了分析,识别双模式一体化探头检测性能影响因素,对激励信号频率、提离距离、探头扫描方向及线圈参数对检测性能的影响进行了试验研究,以检测特征信号变化率曲线中目标缺陷中心位置处的标准变化率为量化指标,直观表征各因素对检测性能的影响方式与程度。结果表明,试验条件与探头设计参数对各模式检测性能影响规律不同,其中提离距离与线圈参数影响较为显著。通过对各因素影响规律的综合考虑,有望实现检测性能提升并指导探头优化设计。

来源:2020年第6期

《仪器仪表学报》期刊编辑部

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