国内刊号:11-2179/TH
国际刊号:0254-3087
发布日期:
作者:乔潇悦,丁国清,陈 欣,蔡 萍
单位:乔潇悦,1.上海交通大学电子信息与电气工程学院,,丁国清,1.上海交通大学电子信息与电气工程学院,,陈 欣,1.上海交通大学电子信息与电气工程学院,,蔡 萍,1.上海交通大学电子信息与电气工程学院,
关键词:复合位姿;二维自校准;误差分离;不确定度;影像测量仪
基金:国家重点研发计划(2019YFF0216401)项目资助
自校准与校准相比,无需精度等级高于被校准对象的标准样板,能以较低的条件成本实现精密测量仪器系统误差的校准。二维自校准中的标准样板常采用初始、相对旋转和平移的传统三位姿组合。位姿之间相互独立且所有位姿变换均以初始位姿为基础。采用旋转和平移两种位姿复合后的位姿,能避免两次位姿变换之间必须将标准样板回归初始位姿的冗余操作,简化了二维自校准流程。基于复合位姿的二维自校准经仿真实验证明能在模拟噪声环境中有效分离被校准对象的误差,其不确定度与传统非复合位姿组合的相等。复合位姿的引入不影响二维自校准的噪声抑制能力。在影像测量仪上实施二维自校准实验,采用包含复合位姿的三位姿组合的二维自校准分离的工作台系统误差接近传统三位姿组合。两种位姿组合对应的工作台系统误差结果相差0.167μm。另外通过采用包含复合位姿的四位姿组合的实验结果,进一步论证了基于复合位姿的二维自校准效果。
来源:2022年第9期
《仪器仪表学报》期刊编辑部