国内刊号:11-2179/TH
国际刊号:0254-3087
发布日期:
作者:安 康,舒 好,卢艳平,周日峰,王 珏
单位:安 康,1.重庆大学光电工程学院光电技术及系统教育部重点实验室,2.工业 CT无损检测教育部工程研究中心,,舒 好,1.重庆大学光电工程学院光电技术及系统教育部重点实验室,2.工业 CT无损检测教育部工程研究中心,,卢艳平,1.重庆大学光电工程学院光电技术及系统教育部重点实验室,2.工业 CT无损检测教育部工程研究中心,,周日峰,1.重庆大学光电工程学院光电技术及系统教育部重点实验室,2.工业 CT无损检测教育部工程研究中心,,王 珏,1.重庆大学光电工程学院光电技术及系统教育部重点实验室,2.工业 CT无损检测教育部工程研究中心,
关键词:锥束CT;平板探测器;串扰校正;点扩散函数;空间分辨率
基金:科技部国家重点研发计划(2022YFF0706400)、重庆市技术创新与应用发展项目(cstc202lycjh-bgzxm022)资助
平板探测器是锥束CT的关键组成部件,像元间的信号串扰是造成平板探测器投影图像空间分辨率低于极限值的主要因素,校正平板探测器信号串扰对提高锥束CT检测精度具有重要意义。本文基于点扩散函数矩阵反卷积投影图像去串扰校正思路,研究了点扩散函数矩阵的准确性对投影图像串扰校正的影响、点扩散函数和线扩散函数的关系及其与X射线成像的相似性,提出一种结合刀口法测量线扩散函数与平行束CT扫描重建的平板探测器点扩散函数矩阵测算方法。DR/CT扫描成像实验中,应用本文方法校正信号串抗后,DR成像空间分辨率由约10lp/mm提升至优于25lp/mm,高能CT成像空间分辨率由不到4lp/mm提升至优于5lp/mm,实验证明,应用本文方法能有效校正平板探测器信号串扰,提升锥束CT图像的空间分辨率和对比度。
来源:2023年第7期
《仪器仪表学报》期刊编辑部