国内刊号:11-2179/TH
国际刊号:0254-3087
发布日期:
作者:李 奎,赵伟焯,戴逸华,王 尧,王 阳
单位:李 奎,1. 河北工业大学河北省电磁场与电器可靠性重点实验室,2. 河北工业大学省部共建电工装备 可靠性与智能化国家重点实验室,,赵伟焯,1. 河北工业大学河北省电磁场与电器可靠性重点实验室,2. 河北工业大学省部共建电工装备 可靠性与智能化国家重点实验室,,戴逸华,3. 北京蓝普锋科技有限公司,,王 尧,1. 河北工业大学河北省电磁场与电器可靠性重点实验室,2. 河北工业大学省部共建电工装备 可靠性与智能化国家重点实验室,,王 阳,1. 河北工业大学河北省电磁场与电器可靠性重点实验室,2. 河北工业大学省部共建电工装备 可靠性与智能化国家重点实验室,
关键词:电源模块;性能退化;加速实验;Wiener过程;健康状态预测
基金:国家自然科学基金(51937004,51977059)项目资助
一般情况下电子产品在失效前性能已经发生退化,而传统的寿命预测方法没有利用退化信息。以智能脱扣器电源模块为研究对象,分析MOSFET开关周期和电路薄弱环节储能电容退化之间的关联关系,提出将MOSFET开关周期作为电源模块性能退化的特征量,建立以MOSFET开关周期为特征参量的智能脱扣器电源模块性能退化模型;将电源模块划分为健康、注意和危险3种健康状态,确定健康状态转移图和转移时间的计算方法,建立其健康状态评估模型;对电源模块进行温度应力下的加速退化实验,验证性能退化模型和健康状态评估模型,并预测电源模块在40℃工作环境下由健康状态转移至注意状态的平均转移时间为3906天,转移至危险状态的平均转移时间为9296天。
来源:2023年第8期
《仪器仪表学报》期刊编辑部