仪器仪表学报

北大核心,CA,JST,EI,CSCD

国内刊号:11-2179/TH

国际刊号:0254-3087

仪器仪表学报杂志2023年第9期:基于暗态扫频法的 Rb-Xe 自旋交换体系弛豫时间测量方法

发布日期:

作者:钱天予,郑锦韬,熊志强,罗 晖,汪之国

单位:钱天予,1. 国防科技大学前沿交叉学科学院,,郑锦韬,1. 国防科技大学前沿交叉学科学院,,熊志强,2. 华惯科技有限公司,,罗 晖,1. 国防科技大学前沿交叉学科学院,,汪之国,1. 国防科技大学前沿交叉学科学院,

关键词:铷氙自旋交换体系;暗态扫频法;弛豫时间;磁场梯度

基金:国家自然科学基金(12174446)、湖南省杰出青年基金(2023JJ10050)项目资助

在87Rb-129Xe自旋交换体系中,87Rb和129Xe弛豫时间的准确测量对于磁共振陀螺及磁力仪相关应用非常重要。针对该需求,分析了泵浦光与激励磁场对87Rb弛豫时间的影响以及暗态下的87Rb和129Xe自旋交换过程,并在理论分析基础上提出了暗态扫频测量方法。实现了对87Rb以及129Xe的纵向弛豫时间的测量。使用本方法测得了87Rb的横向弛豫时间和纵向弛豫时间分别为1.36和5.18ms,129Xe的纵向弛豫时间为519s,其拟合R2=0.9999,具有极高的拟合优度。相较于以往的测量方法,暗态扫频法可以彻底消除泵浦光造成的磁场梯度的影响,具有高准确度的优点且操作简便。研究对磁共振陀螺及磁力仪的性能分析与标定具有较高的参考价值。

来源:2023年第9期

《仪器仪表学报》期刊编辑部

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