仪器仪表学报

北大核心,CA,JST,EI,CSCD

国内刊号:11-2179/TH

国际刊号:0254-3087

仪器仪表学报杂志2024年第12期:基于触头形貌特征的低压直流断路器可靠性评估

发布日期:

作者:李 奎,张 月,姜 惠,侯天航,郭庆斌

单位:李 奎,1. 河北工业大学省部共建电工装备可靠性与智能化国家重点实验室,2. 河北工业大学河北省电磁场与电器可靠性重点实验室,,张 月,1. 河北工业大学省部共建电工装备可靠性与智能化国家重点实验室,2. 河北工业大学河北省电磁场与电器可靠性重点实验室,,姜 惠,1. 河北工业大学省部共建电工装备可靠性与智能化国家重点实验室,2. 河北工业大学河北省电磁场与电器可靠性重点实验室,,侯天航,1. 河北工业大学省部共建电工装备可靠性与智能化国家重点实验室,2. 河北工业大学河北省电磁场与电器可靠性重点实验室,,郭庆斌,1. 河北工业大学省部共建电工装备可靠性与智能化国家重点实验室,2. 河北工业大学河北省电磁场与电器可靠性重点实验室,

关键词:图像分割;感兴趣区域;形貌特征;二元多阶段Wiener模型;可靠性评估

基金:国家自然科学基金(52377142)项目资助

针对触头表面形貌的变化,提出了一种基于触头烧蚀区域形貌特征的可靠性评估模型。首先对触头的形貌演变过程及烧蚀机理进行分析,利用基于图像块权重改进的自适应多阈值分割算法进行触头图像分割,提取引弧板上熔融和喷溅部分作为感兴趣区域;分析感兴趣区域二值图的面积和质心,将其作为触头性能退化的两个关键特征量;对触头形貌变化特征进行分析,利用Gath-Geva(GG)模糊聚类算法得到断路器不同退化阶段的变点,由Copula函数建立了二元特征相关的多阶段Wiener退化模型,拟合优度KS值小于0.3,并通过低压直流断路器的电寿命实验进行模型的验证。

来源:2024年第12期

《仪器仪表学报》期刊编辑部

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